MiniTest 3100涂層測厚儀為多功能高精度的涂鍍層測厚儀，MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，
各自具有不同的數據處理功能：
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能的參數對比：
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型號 |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
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MINITEST 存儲的數據量 |
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應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) |
1 |
1 |
10 |
99 |
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每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，并可設寬容度極限值) |
- |
1 |
10 |
99 |
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可用各自的日期和時間標識特性的組數 |
- |
1 |
500 |
500 |
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數據總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
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MINITEST統計計算功能 |
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讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar |
- |
√ |
√ |
√ |
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讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
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組統計值六種x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
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組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
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存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 |
- |
- |
- |
√ |
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分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 |
- |
- |
√ |
√ |
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顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
- |
√ |
√ |
√ |
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其他功能 |
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透過涂層進行校準(CTC) |
- |
√ |
√ |
√ |
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在粗糙表面上作平均零校準 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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利用計算機進行基礎校準 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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補償一個常數(Offset) |
- |
- |
√ |
√ |
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外設的讀值傳輸存儲功能 |
- |
√ |
√ |
√ |
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保護并鎖定校準設置 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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更換電池是存儲數值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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設置極限值 |
- |
- |
√ |
√ |
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公英制轉換 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 |
- |
- |
√ |
√ |
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連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數 |
- |
- |
√ |
√ |
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浮點和定點方式數據傳送 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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組內單值延遲顯示 |
- |
√ |
√ |
√ |
|
連續(xù)測量模式中顯示最小值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
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探頭 |
量程 |
低端
分辨率 |
誤差 |
最小曲率
半徑(凸/凹) |
最小測量
區(qū)域直徑 |
最小基
體厚度 |
探頭尺寸 |
|
磁
感
應
法 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
|
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
|
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm |
|
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm |
|
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm |
|
兩
用 |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm |
|
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F0.5mm
N50μm |
φ21x89mm |
|
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm |
|
電
渦
流
法 |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
|
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm |
|
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm |
|
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
|
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm |
|
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm |
|
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm |
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CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
無限制 |
φ17x80mm |
|
注： |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 | MiniTest 1100/2100/3100/4100涂層測厚儀探頭圖示
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FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
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F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
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F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
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F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
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N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
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N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 | |
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